簡要描述:葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯微鏡 可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)(納米級別);同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進行研究,數(shù)值測定與分析。
產(chǎn)品目錄
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品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥 |
TT2-AFM原子力顯微鏡
1.標(biāo)準(zhǔn)工作模式:
1.1輕敲模式(Vibration mode)
1.2接觸模式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測試(Force curve)可測楊氏模量
1.6納米操控 (Nanomanipulation)
1.7納米刻蝕 (Nanolithography)
1.8力矩陣模式 (Force Mapping)
1.9摩擦力測試 (Friction Mode)
2. 可選工作模式:
2.1 磁力顯微鏡模式(MFM mode)
2.2 靜電力顯微鏡模式(EFM mode)
2.3 導(dǎo)電顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是專門從事設(shè)計和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗的 Paul West博士,原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃描范圍:100 μm,50 μm,15μmZ方向范圍:17 μm,7 μmXY方向驅(qū)動分辨率:0.01 nmZ方向驅(qū)動分辨率:0.003 nmZ方向測量噪音水平:0.15 nm樣品尺寸:直徑25mm
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